| APHA-kód | P16827 |
| Szerzők | Nyéki J.,  Girardeaux Ch.,  Erdélyi Z.,  Langer G. A.,  Erdélyi G.,  Beke D. L.,  Rolland A. |
| Cím | AES study of surface segregation of Ge in amorphous Si1-xGex thin film alloys. |
| Megjelenés helye | Surface Science 495 (2001) 195 |
| Impakt faktor | 2.189 |
| Megnézem | Hivatkozások (3) |
Magyar