A vékonyrétegek és felületek tulajdonságait gyakran nemcsak az anyaguk átlagos összetétele, hanem annak mélységi eloszlása és a felület változásának dinamikája is meghatározza. Külföldi munkám során különböző funkcionális rétegek összetételének, valamint mélységi profiljának vizsgálatával foglalkoztam, elsősorban ionnyalábos analitikai módszerek alkalmazásával. A kutatás másik részében felületek ionbombázás hatására bekövetkező anyagvesztését, azaz a porlasztási hozamot vizsgáltam. Ez a mennyiség alapvető szerepet játszik az ionbesugárzásnak kitett anyagok viselkedésének megértésében, valamint számos technológiai folyamatban. Az előadás a két kutatási irányon keresztül mutatja be, hogyan használhatók ionnyalábos módszerek anyagok felszíni és mélységi tulajdonságainak feltérképezésére.