• Proton     energia: 200 keV - 4 MeV,     áram: 200 eµA,     fényesség: 8-16 Amp(rad)^-2m^-2eV^-1
• Hélium     energia: 200 keV - 6 MeV,     áram: 40 eµA
• További ionok: pl. B, C, O, S, Si, Cu stb.     energia: 200 keV ~ 10 MeV (a töltésállapottól függően),     áram: 10-50 eµA (az ion fajtájától függően)
• Terminálfeszültség stabilitás: ± 30 V / 4 hrs (résáram stabilizálással)
• Terminálfeszültség ripple: 25 V_RMS

röviden

A kulturális örökség tárgyainak vizsgálatánál első lépés az optikai képalkotás. A digitális 3D mikroszkóp a képen túl kvantitatív információt ad a tárgyon lévő struktúrák méretéről nemcsak horizontális, hanem vertikális skálán is. Ez segítséget nyújt például vésetek mélységének, illetve felületről kiemelkedő díszítő elemek vastagságának meghatározásában.

A Raman-spektroszkópia esetén a rezgési spektrum segítségével információt kaphatunk a molekulákban lévő funkciós csoportok típusa, helyzete, orientációja tekintetében. A vegyületek azonosíthatók jellegzetes Raman-spektrumuk alapján. A Raman-mikroszkóp a kulturális örökség tárgyainak vizsgálatán túl alkalmas biológiai (növényi és állati eredetű minták, kenetek), geológiai (kőzetek, ásványok és csiszolataik) valamint ipari (fémötvözetek, gyógyszerkészítmények) minták elemzésére.

A pásztázó elektronmikroszkóp (SEM - Scanning Electron Microscope) képalkotási elve, hogy a minta felületét nem egyidőben, hanem pontról-pontra haladva folyamatosan képezi le egy nagyon kis térrészre fókuszált elektronnyalábbal. Az elektronok kölcsönhatásba lépnek a minta anyagával, az így keletkező különféle jeleket detektálva információt kapunk a minta topográfiájáról és összetételéről.

Az utóbbi időben egyre nagyobb az igény a kulturális örökség tárgyainak gyors, részecskegyorsítót nem igénylő, roncsolásmentes elemanalitikai vizsgálatára. A röntgenfluoreszcencia (XRF) jelenségén alapuló spektroszkópiai módszert alkalmazó kézi XRF műszer hordozható, ezáltal a vele elvégzett mérés helyileg nem korlátozódik egy konkrét laboratóriumhoz, a mérés elvégezhető bárhol. Ez különösen előnyös nagyméretű, nehéz tárgyak esetén, amelyek laboratóriumba történő szállítása problémás.

A Bruker M4 TORNADO mikro-XRF berendezés (XRF: röntgenfluoreszcencia) régészeti leletek, műtárgyak és egyéb minták roncsolásmentes vizsgálatára szolgál. Az eszköz a mintában lévő elemek koncentrációjáról és eloszlásáról nyújt információt. Remekül kiegészíti az Atomkiban hagyományosan alkalmazott gyorsítós elemanalitikát, tárgytól és analitikai problémától függően egyik vagy másik az optimális választás.